X射線熒光分析技術(shù)是利用初級(jí)x射線光子或其他微觀粒子激發(fā)待測(cè)樣品中的原子，使之產(chǎn)生熒光(次級(jí)x射線)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)形態(tài)研究的方法?？蓮V泛應(yīng)用于鋼鐵、有色、化工、地質(zhì)、建材及環(huán)境等分面，具有分析速度快、樣品處理簡(jiǎn)單、不破壞樣品等特點(diǎn)。

X射線熒光光譜儀大致可以分為兩種——波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀和能量色散型X射線熒光光譜儀。波長(zhǎng)色散型儀器一般由光源（X-射線管）、樣品室、分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成，是利用分光晶體將熒光光束色散后，測(cè)定各種元素的含量。波長(zhǎng)色散型儀器具有優(yōu)異的性能，應(yīng)用領(lǐng)域極寬，但儀器結(jié)構(gòu)復(fù)雜，價(jià)格昂貴。相比較而言，能量色散型儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，省略了晶體的精密遠(yuǎn)動(dòng)裝置，也無需精度調(diào)整，價(jià)格便宜，但由于分辨率較差，可應(yīng)用的范圍與波長(zhǎng)色散型相比較少。德國(guó)斯派克分析儀器公司利用了這兩種儀器的特點(diǎn)，推出了偏振X射線熒光光譜儀正好彌補(bǔ)了兩者的缺陷。

偏振X射線熒光光譜儀，是德國(guó)斯派克分析儀器公司推出的全新理念的儀器。該儀器與傳統(tǒng)的光譜儀有著較大的改進(jìn)，引入了偏振X射線的概念，降低了背景，提高了靈敏度，部分消除了基體效應(yīng)的影響，對(duì)不同的基體可使用同一條工作曲線。使儀器的一些性能可與大型波長(zhǎng)色散型X熒光光譜儀相媲美。

偏振X射線熒光光譜儀的突出特點(diǎn)是小機(jī)器，大用途，性價(jià)比高。偏振X射線熒光光譜儀可以通過二次靶將圓光變?yōu)槠窆?，大大降低了元素測(cè)定時(shí)的背景。提高了靈敏度及分辨率。由于偏振X射線本身所具有的偏振性及單色性，因此儀器無需選擇濾光片，避免了煩雜的濾光片的選擇，簡(jiǎn)化剖析操作，減少了X光的損失，節(jié)儉了剖析時(shí)間。安全性符合苛刻的德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)?？蓮V泛應(yīng)用于石油、化工、水泥、陶瓷、有色、玻璃、電子等行業(yè)。也可用于環(huán)境分析、地質(zhì)分析等。

        石油行業(yè)使用偏振X射線熒光光譜儀的檢測(cè)數(shù)據(jù)